返回首頁
 
[ AOI自動光學檢測系統 | 光學膜缺陷檢測系統 ]

■ 光學膜缺陷檢測系統

光學膜缺陷檢測系統

■ 設備架構

系統規格
項目
規格
備註
 傳動方式
Stage傳動
 傳動線速
5m/min
受限於樣品尺寸
 攝影機
NED SUFi74
7K像素線性攝影機
 鏡頭
50mm 1:1.8D
 光源
白色高頻螢光燈源,白光 LED
 影像擷取卡
VS-1300
 掃描速率
2,400Hz
 影像精度
35μm/pixel

■ 檢測畫面

光學膜缺陷檢測系統 光學膜缺陷檢測系統
光學膜缺陷檢測系統 光學膜缺陷檢測系統
 

欲知更多設備性能及規格,請與我們聯絡,我們的專員竭誠為您服務!

■ 聯繫客服專員:mail / Skype Me

Top